X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析?？赏ㄟ^半高寬、峰形等進行粒徑/結(jié)晶度/精密Ｘ射線結(jié)構(gòu)解析等各種分析。

　　

　　X射線衍射儀原理：

　　

　　x射線的波長和晶體內(nèi)部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產(chǎn)生散射波，這些波互相干涉，結(jié)果就產(chǎn)生衍射。衍射波疊加的結(jié)果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結(jié)果，便可獲得晶體結(jié)構(gòu)。以上是1912年德國物理學家勞厄(M.vonLaue)提出的一個重要科學預見，隨即被實驗所證實。1913年，英國物理學家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在勞厄發(fā)現(xiàn)的基礎(chǔ)上，不僅成功的測定了NaCl，KCl等晶體結(jié)構(gòu)，還提出了作為晶體衍射基礎(chǔ)的公式——布拉格方程：2dsinθ=nλ。

　　

　　對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現(xiàn)在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結(jié)構(gòu)不存在晶體結(jié)構(gòu)中原子排列的長程有序，只是在幾個原子范圍內(nèi)存在著短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。

　　

　　X射線衍射儀是利用衍射原理，測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應力，的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。

　　

　　簡單的使用維護：

　　

　　X射線衍射儀的觸屏可以顯示儀器的工作狀態(tài)及報警信息，這些信息同時會傳遞給連著的計算機系統(tǒng)，有計算機系統(tǒng)的控制軟件對狀態(tài)及報警信息進行管理，通過這些信息可以方便的知道儀器的運行狀況及故障信息，這些信息使得用戶在進行簡單的培訓之后，就可以對自己的儀器進行常規(guī)的維護及維修操作。